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Mask光罩缺陷檢查機
檢查能力
Open/Short、針孔、汙點、刮傷、異物、圖像偏移、圖像大小改變…等等,不屬於參考資料上的圖形皆可檢查
大面積光罩檢測,最細小缺陷檢出;自動對焦系統,解決離焦困擾;最高規格解析度。最小可檢0.75um缺點。
Mask光罩圖形缺陷檢查項目
針孔
光罩圖形上的針孔點
汙點
光罩上的汙點或落塵
刮傷
光罩圖形上的刮傷
毛屑
光罩上的毛屑掉落物
缺口/凸出
光罩圖形上的缺口/凸出
短斷路
光罩圖形上的短斷路
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光罩圖像的大小變化
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