Toggle navigation
中文
/
簡体
/
EN
/
日文
首頁
關於我們
企業理念
公司發展歷程
公司簡介
產品介紹
底片/光罩檢查機
特色功能
檢測能力
型號規格比較
EX4
DX 6.0
DX 6.5
DX 6 Super
DX6 Super High
DX6 Super High Plus
TSL-SP7-LS3
TSL-SP7-LS2
鋼版檢查機
特色功能
檢測能力
型號規格比較
MVS4
MVS6
防焊後泛用型檢查機
特色功能
檢測能力
型號規格比較
DVI M1
DVI P2
DVI A3
GTS-V2
Pellicle+Mask Inspection System
特色功能
檢查能力
型號規格比較
TSL-PEL-DRC
TSL-PEL-REF
應用產業
服務與支援
常見問題
聯絡我們
Mask Inspection system
TSL各類型機種 檢查流程示意影片
可依照客戶端的待測物;選擇合適的機型,
能配合高度客製化選項,功能齊全靈活。
底片 / 光罩 /鋼板 / Pellicle(光學薄膜) 全方位檢測
大面積光罩檢測,最細小缺陷檢出;自動對焦系統,解決離焦困擾;最高規格解析度。最小可檢0.75um缺點。
TSL全系列機種 檢測流程影片
TSL-SP7-LS series (光罩缺陷檢查機)
TSL-MVS 鋼版缺陷檢檢查設備
TSL-PEL Series (Pellicle+光罩缺陷檢查設備)
產品介紹