光学薄膜+ガラスマスク検査機
Pellicle + Mask Inspection System


概要

なぜPellicle+Mask Inspection Systemを使うか?

光学薄膜(Pellicle)は、半導体製造と他の光学応用においては、大事な鍵であります。
その品質は完成品の性能と確実性を直接に影響を与えます。


各レイヤー検査

本機種は、ガラスマスクとPellicleの各レイヤーに対して詳しく検査を行います。
下の図Aと図Bと図Cと図Dのように、全てのレイヤーが検査されており、全てのレイヤーの品質が基準を満たすことを保証できます。





Pellicle 検査
Pellicle 検査機外観